高低溫試驗(yàn)箱用于測試產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的耐受能力，以下是一般的測試流程：

　　1、準(zhǔn)備測試產(chǎn)品：將待測產(chǎn)品放入高低溫試驗(yàn)箱中，并確保產(chǎn)品與試驗(yàn)箱壁之間有足夠的間隙，以避免溫度傳導(dǎo)不均。

 

　　2、設(shè)定低溫值：根據(jù)產(chǎn)品的要求和測試標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)定高低溫試驗(yàn)箱的溫度值。一般情況下，低溫值應(yīng)該設(shè)定在產(chǎn)品規(guī)定的低溫范圍內(nèi)。

 

　　3、啟動試驗(yàn)箱：啟動高低溫試驗(yàn)箱，并觀察箱體內(nèi)溫度的變化。在試驗(yàn)箱啟動后，應(yīng)該密切監(jiān)測箱體內(nèi)溫度的變化，以確保溫度的穩(wěn)定性。

 

　　4、低溫測試：在高低溫試驗(yàn)箱啟動后，產(chǎn)品應(yīng)該經(jīng)歷低溫測試階段。在這個(gè)階段內(nèi)，產(chǎn)品應(yīng)該在低溫環(huán)境下持續(xù)承受低溫考驗(yàn)，直到達(dá)到規(guī)定的低溫值。

 

　　5、保溫階段：在低溫測試結(jié)束后，高低溫試驗(yàn)箱會進(jìn)入保溫階段，箱體內(nèi)溫度會逐漸回升至正常溫度。在保溫階段，應(yīng)該觀察產(chǎn)品的溫度變化，以確保產(chǎn)品的溫度均勻性。

 

　　6、取出產(chǎn)品：在保溫階段結(jié)束后，取出測試產(chǎn)品進(jìn)行檢查和測試。根據(jù)產(chǎn)品的要求和測試標(biāo)準(zhǔn)，對測試產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的測試和評估，以確定其低溫環(huán)境下的耐受能力。

 

　　總之，高低溫試驗(yàn)箱測試產(chǎn)品流程需要根據(jù)產(chǎn)品的要求和測試標(biāo)準(zhǔn)制定，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí)，需要密切監(jiān)測箱體內(nèi)溫度的變化，以確保測試過程的安全和有效性。

 

　　高低溫試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律的功能，主要針對產(chǎn)品及材料在溫度變化較快的環(huán)境下儲存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，適用于電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫、低溫及高低溫漸變試驗(yàn)，供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。那么如何利用該設(shè)備進(jìn)行樣品測試呢？

 

　　1、測試準(zhǔn)備階段：將被測樣品放置在正常的試驗(yàn)空氣中，直至溫度穩(wěn)定。將被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行對照，符合要求后直接放入試驗(yàn)箱。

 

　　2、進(jìn)行樣品測試：

 

　　(1)、被測樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，設(shè)置測試條件，使箱內(nèi)溫度升至相應(yīng)溫度，保持一段時(shí)間直至被測樣品到溫度穩(wěn)定，高溫測試時(shí)間以標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

 

　　(2)、高溫測試結(jié)束后，在5分鐘內(nèi)將試樣移動至箱內(nèi)，保持一段時(shí)間或直到試樣溫度穩(wěn)定為止，具體以測試標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

 

　　(3)、低溫階段結(jié)束后，在5分鐘內(nèi)將樣品移動至箱內(nèi)，保持一段時(shí)間或直到試樣溫度穩(wěn)定為止，具體以測試標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

 

　　(4)、重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣品的大小和空間的大小，時(shí)間可能會稍有誤差。

 

　　3、測試結(jié)束分析：試樣從高低溫試驗(yàn)箱中取出后，應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下恢復(fù)，直至試樣溫度穩(wěn)定。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度和其他方法評定檢查結(jié)果。